LD芯片測試設備（低溫）
HS-LDTS1000 LDchip測試設備是一款用于LD芯片光電性能檢測，可測試長波長激光器（-40℃至-90℃溫度條件下）的前光、背光的LIV參數和光譜參數，設備自動化程度高，圖像算法智能，支持正面及端面AOI外觀檢測&OCR字符識別，有利于生產企業提高測試效率，提高產品的品質把控。
特點：
※ 上下料，測試及分選全過程完全全自動進行。
※ 超高清CCD視覺雙視野定位系統，可自動識別芯片排列角度及位置
※ 搭載自研高速LIV測試系統，實現高速前光和背光LIV同步高效測試，同時匹配橫河光譜儀也可進行光譜測試
※ 溫控系統采用高效TEC，可滿足芯片在-40℃、+25℃、+90℃的測試需求
※ 支持正面及端面AOI外觀檢查&OCR字符識別
※ 可對產品進行等級分類收納
※ I-L、FFP、λ特性為基本測試項目。如有需求，亦可靈活對應各種特殊測試
※ 設備與測試儀器通訊及算法為本公司獨立開發
※ 設備具備自動校準功能，可保證測試數據準確
