銷售熱線:+86(512) 5011 9416-806
LD芯片測試設備(低溫)
HS-LDTS1000 LDchip測試設備是一款用于LD芯片光電性能檢測,可測試長波長激光器(-40℃至-90℃溫度條件下)的前光、背光的LIV參數和光譜參數,設備自動化程度高,圖像算法智能,支持正面及端面AOI外觀檢測&OCR字符識別,有利于生產企業提高測試效率,提高產品的品質把控。
特點:
※ 上下料,測試及分選全過程完全全自動進行。
※ 超高清CCD視覺雙視野定位系統,可自動識別芯片排列角度及位置
※ 搭載自研高速LIV測試系統,實現高速前光和背光LIV同步高效測試,同時匹配橫河光譜儀也可進行光譜測試
※ 溫控系統采用高效TEC,可滿足芯片在-40℃、+25℃、+90℃的測試需求
※ 支持正面及端面AOI外觀檢查&OCR字符識別
※ 可對產品進行等級分類收納
※ I-L、FFP、λ特性為基本測試項目。如有需求,亦可靈活對應各種特殊測試
※ 設備與測試儀器通訊及算法為本公司獨立開發
※ 設備具備自動校準功能,可保證測試數據準確