LD芯片測試設備（常高溫）
HS-LDTS2000型 LD Chip Tester測試機是LD芯片電氣和光學特性自動測試、判定及分選的高速雙溫測試機。溫控系統采用高效TEC，實現快速升溫及降溫，可滿足在+20℃至+95℃范圍內測試。采用大光敏面PD探測器進行光功率數據的采樣轉換，測試數據的再現性和重復性穩定可靠、數據準確。
特點：
※ 測試速度快：循環交替測試、提高工作效率，測試時間≤5.5秒/每顆。
※ 溫度控制精度高、速度快：在+20℃~+95℃范圍內控溫速率≤5分鐘，溫控精度±0.5℃。
※ 先進測試技術：搭載自研高速LIV測試系統，實現高速前光和背光LIV同步高效測試。
※ 收納載盤多樣化：6寸藍膜盤及2寸 Gel-Pack。
※ 光譜儀任選：橫河（YOKOGAWA）系列/安立(Anritsu）系列的光譜儀均可選擇使用。
